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| 様々な用途に合わせたテストクリップをご用意しています。外れにくいフックタイプ、SMDデバイスに最適なグラバータイプ、簡単にアッセンブル出来るDIYタイプ、0.45mmピッチでも使用できるチャレンジャークリップ、高電圧でも安全に使用できるIEC準拠タイプまで幅広いセレクションです。 |
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| ELECTRO PJP社のミニテストクリップ、Proシリーズ。 ＤＩＹタイプ、パッチコード付、バナナプラグ、安全バ… |
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| 先端がフック状になっているテストクリップです。しっかりと対象物を挟み込んで使えます。 |
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| SMD パッケージのリードをしっかり挟んで評価します。 |
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| 標準DIPパッケージのテストに適したテストクリップです。 |
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| 手の届きにくい狭くて深い場所にも使用できる様全長が152.4mmと長いデザインになっています。 |
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| 先端がフック状になっており、マイクログラバーよりもボディー長が長くなっています。 |
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| 0.8mmピッチまでのSMDデバイスのテストに最適なテストクリップです。 薄型ボディーで並べて使えます。 |
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| リードピッチが0.25mmまで使用できる、優れたテストクリップです。クリップ先端が絶縁されており、並べて使… |
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| ロングタイプのテストクリップは先端がクリップ、フック、ワニ口タイプと三種類あります。 Φ４mmバナナプ… |
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| ロングタイプのテストクリップは先端がクリップ、フック、ワニ口タイプと三種類あります。高安全タイプは接… |
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| 導体をむき出しにして使えない時などに絶縁体を突刺して測定します。 |
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| 端子台に磁石で固定。先端のマグネットのサイズはφ4mm 〜7mmストレート、直角φ4バナナプラグに挿して使用し… |
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