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24-84ピンのPLCCデバイス用テストクリップ。

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QUAD CLIPテストクリップ:20ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:20 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップ:28ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:28 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップ:32ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:32 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップ:44ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:44 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップ:52ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:52 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップ:68ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:68 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップ:84ピン ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定できるスナップ リング方式を採用 仕 様 ピン数:84 本体:ガラス封
QUAD CLIPテストクリップキット 内容:5279、5280、5733、5281、5312、5401、 5402 各1、ケース入り ■“J”リード付PLCCパッケージのテスト用に設計され、 脱着がしやすく、しっかりと固定で
PLCC ICテストクリップ ■くわえ口は4方向同時に開き、PLCC IC に簡単に、 且つ確実にセット出来ます。 ■くわえ口の厚みは薄く設計され、ICとICの間隔が 2.54mmあれば使用出来ます。 ■上部


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